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Abstract

Es wird ein Verfahren zur Bestimmung der elektrischen Leitfähigkeit von Halbleitern beschrieben, das im besonderen für solche Stoffe wertvoll sein wird, die nur als feinkörnige Pulver der Messung zugänglich sind. Die Zuverlässigkeit dieses Meßverfahrens wurde durch Messungen an kristallinem Kupferoxydul (als elektronischem Leiter) und Silberchlorid (als elektrolytischem Leiter) erprobt. Das Verfahren dürfte zur Lösung mancher Fragen über die Natur der elektrischen Leitung in Halbleitern geeignet sein.