Über die Halbleitereigenschaften des Kupferoxyduls. IV Leitfähigkeitsmessungen bei hohen Temperaturen

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Abstract

An Kupferoxydulproben werden Leitfähigkeitsmessungen innerhalb des Existenzgebietes vorgenommen. Es wird festgestellt, daß die früher gefundene Gesetzmäßigkeit

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nur bei Sauerstoffdrucken größer als etwa 10−2 Torr gilt. Vermutlich ist die Ursache für die bei tiefen Drucken beobachtete Abweichung aut eine Art von Eigenleitung zurückzuführen, die bei höheren Drucken durch die Störstellenleitung verdeckt wird.

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