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Abstract

Mit der Methode der Bitterschen Streifen werden magnetische Elementarbezirke in der Nähe von Kristallkorngrenzen und um natürliche und künstliche Fremdkörper untersucht. Durch Anlegen eines Magnetfeldes wird die Verschiebung von 180°-Blochwänden über Fremdkörper in der Oberfläche studiert. Schließlich wird während der Beobachtung die Temperatur der Probe erhöht.