Über die Halbleitereigenschaften des Kupferoxyduls. IX. Halleffektsmessungen bei tiefen Temperaturen

Authors


Abstract

Es werden Leitfähigkeits- und Halleffektsmessungen am Cu2O unterhalb der Zimmertemperatur beschrieben, wobei besonders der Einfluß der Art der Abkühlung der Proben nach der bei 960° C und verschiedenen Sauerstoffpartialdrucken erfolgten Temperung untersucht wird.

In der Temperaturabhängigkeit der Hallkonstante R und des Produktes χ · R festgestellte Anomalien werden auf das gleichzeitige Auftreten von Ladungsträgern verschiedenen Vorzeichens (Defekt- und Überschußelektronen) zurückgeführt.

Aus Untersuchungen der Oberflächenleitfähigkeit des Cu2O wird geschlossen, daß der Ursprung des anomalen Leitungsmechanismus in einer dünnen Oberflächenschicht liegt.

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