Untersuchungen an Kristallspitzen bei Bestrahlung mit schnellen Elektronen

Authors


Abstract

Es wird über Versuche an einer Apparatur berichtet, die es gestattet, Kristallspitzen sowohl durch Elektronenbeugung als auch mittels Feldemission zu beobachten. Die Möglichkeit, derartige Spitzen als Objekt der Elektronenbeugung zu verwenden, wurde untersucht, eine geeignete Beobachtungsmethode erprobt. - In der Beugungsanordnung wurden starke Aufladungen meist positiven Vorzeichens an den geerdeten Kristallspitzen immer dann festgestellt, wenn diese unmittelbar vorher als Feldemissionskathoden benutzt oder intensivem Elektronenbeschuß ausgesetzt worden waren. Dabei war der Druck im Inneren der Apparatur höher als sonst bei Feldemissionsuntersuchungen üblich. Diese Erscheinungen konnten durch Ausheizen der Spitzen innerhalb weniger Sekunden beseitigt werden, während sie ohne äußere Beeinflussung bis zur Dauer einer halben Stunde beobachtbar blieben. Sie werden erklärt als Folge der Bildung adsorbierter Doppelschichten auf den Spitzen unter der Einwirkung von Elektronenbeschuß oder Feldemission. als deren Bestandteile insbesondere Kohlenwasserstoffe eine wesentliche Rolle spielen. - Die Deformationen des Primärflecks der Elektronenbeugungsapparatur bei Annäherung einer Kristallspitze, die sich nicht auf Apparaturpotential befindet, an den Elektronenstrahl werden näher untersucht. Eine einfache Hilfsvorstellung wird entwickelt, die es erlaubt, verschiedene wesentliche Eigenschaften der Ablenkungsfiguren in guter Übereinstimmung mit den Beobachtungen herzuleiten.

Ancillary