Dielektrische Eigenschaften von Halbleitern

Authors


Abstract

Es werden die dielektrischen Eigenschaften von polykristallinem Selen, sowie von Germanium- und Siliziumeinkristallen in einem Meßkondensator zwischen 100 kHz und 400 kHz in Abhängigkeit von der Temperatur gemessen. Die von M. R. Freymann und Mitarbeitern an Selen und anderen elektronischen Halbleitern bei bestimmten Temperaturen und Frequenzen beobachteten Maxima des Verlustwinkels werden an Selen und Silizium ebenfalls festgestellt. Es wird aber gezeigt, daß diese Maxima keine Volumeneigenschaften der Halbleiter sind, sondern durch Kontakte an der Oberfläche des Halbleiters bedingt sind.

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