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Keywords:

  • Amorphe Materialien;
  • Gläser;
  • Rasterkraftmikroskopie;
  • Strukturaufklärung

Keine periodischen Strukturen treten der topographischen Rasterkraftmikroskopie-Direktabbildung (siehe rechts) zufolge in der Bruchfläche eines Ba/Si/O/C-Glases auf. Die vorgestellten Ergebnisse verdeutlichen das enorme Potential der noch jungen Methode zur Ermittlung von charakteristischen Strukturelementen in Festkörpern ohne Translationssymmetrie.