Durch Rasterkraftmikroskopie atomar aufgelöste Struktur an den Bruchflächen eines Ba/Si/O/C-Glases

Authors

  • Dipl.-Chem. Volker Lansmann,

    1. Institut für Anorganische Chemie der Universität Gerhard-Domagk-Straße 1, D-53121 Bonn Telefax: Int. + 228/73-5660 E-mail: unc419@ibm-rhrz.uni-bonn.de
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  • Prof. Dr. Martin Jansen,

    Corresponding author
    1. Institut für Anorganische Chemie der Universität Gerhard-Domagk-Straße 1, D-53121 Bonn Telefax: Int. + 228/73-5660 E-mail: unc419@ibm-rhrz.uni-bonn.de
    • Institut für Anorganische Chemie der Universität Gerhard-Domagk-Straße 1, D-53121 Bonn Telefax: Int. + 228/73-5660 E-mail: unc419@ibm-rhrz.uni-bonn.de
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  • Dipl.-Phys. Wolfgang Raberg,

    1. Institut für Physikalische Chemie der Universität Wegelerstraße 12, D-53115 Bonn Telefax: Int. + 228/73-2551
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  • Prof. Dr. Klaus Wandelt

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    1. Institut für Physikalische Chemie der Universität Wegelerstraße 12, D-53115 Bonn Telefax: Int. + 228/73-2551
    • Institut für Physikalische Chemie der Universität Wegelerstraße 12, D-53115 Bonn Telefax: Int. + 228/73-2551
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  • Die Arbeit wurde im Rahmen des Sonderforschungsbereichs 408 (Anorganische Festkörper ohne Translationssymmetrie) durch die Deutsche Forschungsgemeinschaft finanziell unterstützt.

Abstract

Keine periodischen Strukturen treten der topographischen Rasterkraftmikroskopie-Direktabbildung (siehe rechts) zufolge in der Bruchfläche eines Ba/Si/O/C-Glases auf. Die vorgestellten Ergebnisse verdeutlichen das enorme Potential der noch jungen Methode zur Ermittlung von charakteristischen Strukturelementen in Festkörpern ohne Translationssymmetrie.

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