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Ultrafast Electron Crystallography of Surface Structural Dynamics with Atomic-Scale Resolution

Authors


  • This work was supported by the National Science Foundation. Some support was also provided by the Air Force Office of Scientific Research. F.V. acknowledges partial financial support from the Swiss National Science Foundation and S.C. a Millikan fellowship at Caltech. We thank Professor N. Lewis and L. Webb for functionalizing the silicon surface.

Abstract

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Ein würdiger Mitstreiter der Röntgenbeugung ist die ultraschnelle Elektronenkristallographie. Während sich die Röntgenbeugung besser für Untersuchungen der Volumenphase eignet, liefern die Zeit-, Längen- und Empfindlichkeitskalen der Elektronenkristallographie umfassende und komplementäre Informationen über dynamische Prozesse auf Oberflächen in atomarer Auflösung (siehe Beugungsbild eines GaAs-Kristalls).

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