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Spectroscopy and High-Resolution Microscopy of Single Nanocrystals by a Focused Ion Beam Registration Method

Authors


  • C.N., A.M.F., and P.M. were supported by the Australian Research Council (DP Grant 0558608 and FF0561486). I.P.-S. and L.M.L.-M. were supported by the Spanish Ministerio de Educación y Ciencia (Grants MAT2004-02991 and NAN2004-09133). C.N. acknowledges the University of Melbourne for the MIRS and MIFRS scholarships. I.P.-S. acknowledges the Xunta de Galicia for an Isidro Parga Pondal fellowship.

Abstract

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Aussagekräftig: Die Bestimmung der genauen Größe und Form eines Nanopartikels ist für den direkten Vergleich experimenteller Befunde mit theoretischen Vorhersagen essenziell. Der Einsatz einer Methode mit fokussiertem Ionenstrahl ermöglicht die routinemäßige Durchführung spektroskopischer und hochauflösender mikroskopischer Experimente am selben Nanopartikel (siehe Bild).

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