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Keywords:

  • Amorphe Strukturen;
  • Dünne Filme;
  • Glas;
  • Rastertunnelmikroskopie;
  • Silika
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Glasklare Analyse: Die atomare Struktur eines metallgestützten glasartigen dünnen Silikafilms wurde durch Tieftemperaturrastertunnelmikroskopie (STM) aufgelöst. Anhand des STM-Bildes wurde ein Modell entworfen, mit dessen Hilfe die atomare Struktur des dünnen Silikatglases im Detail ausgewertet werden konnte. Die Gesamtpaarkorrelationsfunktion des Strukturmodells stimmt gut mit Beugungsexperimenten an glasartigem Silika überein.