Partikelcharakterisierung in hochkonzentrierten Dispersionen – Grundlegende Untersuchungen zu einer neuen Ultraschallmethode

Particle Characterization within Highly Concentrated Dispersions – Fundamental Studies of a New Ultrasound Method

Authors

  • Robert Weser,

    Corresponding author
    1. Technische Universität Dresden, Institut für Verfahrenstechnik und Umwelttechnik, 01062 Dresden, Deutschland
    • Technische Universität Dresden, Institut für Verfahrenstechnik und Umwelttechnik, 01062 Dresden, Deutschland

    Search for more papers by this author
  • Dr.-Ing. Benno Wessely,

    1. Technische Universität Dresden, Institut für Verfahrenstechnik und Umwelttechnik, 01062 Dresden, Deutschland
    Search for more papers by this author
  • Sebastian Wöckel,

    1. Mess- und Analysensysteme, Institut für Automation und Kommunikation e.V., Werner-Heisenberg-Straße 1, 39106 Magdeburg, Deutschland
    Search for more papers by this author
  • Dr.-Ing. Ulrike Hempel

    1. Mess- und Analysensysteme, Institut für Automation und Kommunikation e.V., Werner-Heisenberg-Straße 1, 39106 Magdeburg, Deutschland
    Search for more papers by this author

  • Dieser Beitrag basiert auf einem Vortrag im Rahmen des Jahrestreffens der ProcessNet-Fachgruppe „Partikelmesstechnik” am 28. Februar 2012 in Bad Dürkheim, Deutschland.

Abstract

Es wird eine neue Methode zur inlinefähigen Partikelcharakterisierung in hochkonzentrierten Dispersionen mittels Ultraschallrückstreuung vorgestellt, die sensitiv gegenüber der Partikelgröße und der Konzentration ist. Eine Analyse der Ultraschallrückstreusignale liefert neben der Schalldämpfung zusätzlich ein Maß für die Streuintensität. Die Messung kann ohne Probenahme und minimalinvasiv direkt im Prozess erfolgen.

Abstract

A new method for inline characterization of particles in high concentrated dispersions by ultrasonic backscattering is described, that is sensitive against particle size and concentration. Analyzing the backscattering signal yields the sound attenuation as well as a scattering intensity equivalent. The measurement can be performed without sampling and minimally invasive directly in the process.

Ancillary