SEARCH

SEARCH BY CITATION

Abstract

Transmission electron microscopy is used to analyze the partial dislocations bounding super-lattice-intrinsic stacking faults (S-ISFs), which are produced when polycrystalline Ni3Al is deformed under tension. The results show that the partials have line directions parallel to 〈110〉 and have (a/3) 〈211〉 Burgers vectors. Most pairs of partials have parallel Burgers vectors, in agreement with similar observations by Takeuchi et al. in compressed Ni3Ga. It is suggested that these S-ISFs are truncated faulted loops. A possible mechanism for the formation of these loops is outlined and some experimental evidence for this mechanism is presented.

Die teilweise Verschiebung von Stapelfehlern in überstrukturgittern (superlattice-intrinsic stacking faults S-ISF) wird mit Hilfe der Transmissions-Elektronenmikroskopie analysiert. Diese überstruktur entsteht, wenn mehrfachkristallines Ni3Al unter Zugspannung verformt wird. Die Ergebnisse zeigen, daß die Verschiebungen Richtungen parallel zu 〈110〉 aufweisen mit (a/3) 〈211〉 Burgers-Vektoren. Die meisten paarweisen Verschiebungen weisen parallele Burgers-Vektoren auf. Diese Beobachtungen stimmen mit denen von Takeuchi und Mitarbeitern überein, die in verdichtetem Ni3Ga gemacht wurden. Es wird angenommen, daß die S-ISF abgeschnittene Fehlerstellen sind. Ein möglicher Mechanismus für die Bildung dieser Fehlerstellen wird angegeben, und an Hand von einigen experimentellen Ergebnissen belegt.