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Lionel Cervera Gontard, Lan-Yun Chang, Crispin J. D. Hetherington, Angus I. Kirkland, Dogan Ozkaya and Rafal E. Dunin-Borkowski Aberration-Corrected Imaging of Active Sites on Industrial Catalyst Nanoparticles Angewandte Chemie 119

Version of Record online: 23 MAR 2007 | DOI: 10.1002/ange.200604811

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Bildhübsche Bilder: Informationen zur Umgebung aktiver Zentren auf käuflichen Nanopartikeln werden auf atomarer Ebene durch Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) mit Korrektur für die sphärische Aberration erhalten. Pt-Nanopartikel-Pulver auf Kohle wurde mit zwei TEM-Techniken untersucht, die jüngste Entwicklungen bei Hardware und Rechenverfahren nutzen.

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